Технические характеристики
Методы ультразвукового контроля, реализуемые дефектоскопом | эхо |
зеркальный | |
зеркально-теневой (ЗТМ) | |
Методы вихретокового контроля, реализуемые дефектоскопом | фазовый |
амплитудный | |
Режимы вихретокового контроля | динамический |
статический | |
Количество ультразвуковых каналов | 1 |
Количество вихретоковых каналов | 1 |
Основной индикатор дефектоскопа | цветной TFT экран |
Дополнительные индикаторы дефектоскопа | встроенный звуковой индикатор |
светодиод на панели дефектоскопа | |
светодиод на вихретоковом преобразователе | |
Номинальное значение частоты УЗК, МГц | |
версия приемочный контроль | 1,25; 1,8; 2,5; 5,0 |
вагонная, локомотивная версии и версия метрополитен | 0,4; 1,25; 2,5; 5,0 |
рельсовая версия | 2,5; 5,0 |
Амплитуда электрических колебаний при возбуждении УЗК, В | |
высокой амплитуды | 120 |
низкой амплитуды | 4,5 |
Частота следования зондирующих импульсов УЗК, Гц | 25 ... 5000 |
Типы разверток | |
в режиме ультразвукового контроля | А‑развертка |
W-развертка | |
В-развертка | |
в режиме вихретокового контроля | бегущая развертка |
Диапазон регулировки усиления (чувствительности) ультразвукового канала, дБ | 0 ... 80 |
Диапазон регулировки усиления вихретокового канала, дБ | 0 ... 80 |
Глубина (амплитуда) ВРЧ, дБ | не более 80 |
Частота вихретокового контроля, кГц | 10 ... 100 |
Амплитуда сигнала задающего генератора вихретокового канала, В | 0,8; 1,5; 3,4; 8,3 |
Диапазон измерения глубины выявленного дефекта в изделиях из стали для ПЭП с углом ввода 0, мм | 1 … 32221 |
Длительность А-развертки, мкс | |
минимальная | 1,3 |
максимальная | 10917 |
Диапазон измерения глубины трещин в режиме вихретокового контроля, мм | 0,1 … 9,9 |
Диапазон рабочих температур окружающего воздуха, С | -25 … +50 |
Масса, кг, не более: | 1,2 |
Габаритные размеры, мм, не более: | 140x220x42 |
Опции:
Представление информации на экране:
| ||
Простой интерфейс:
| ||
Автоматическая сигнализация дефектов:
| ||
Автоматические режимы:
| ||
Выравнивание чувствительности:
| ||
Измерение характеристик выявленных дефектов:
| ||
Энергонезависимая память:
|